在变压器局部放电测试中，各种干扰同样能通过测试回路反映到示波图或指示仪表中来，gis局部放电测试仪，干扰信号和局部放电信号混杂在一起，就给局部放电信号的观察和
测量带来了很大的困难.另外，局部放电产生的检测信号很微弱，武汉局部放电测试仪，仅为微伏级，很容易被外界干扰信号所淹没。因此，如何正确区分干扰信号以至消除干扰信号就成为能否顺利进行局部放电试验的关键。特别对于高电压产品的局部放电测试，这一点尤其要给予足够重视。
局部放电对绝缘材料的破坏作用是与局部放电消耗的能量直接相关的，局部放电测试仪aia-2，因此对放电消耗功率的测量很早就引起人们的重视。在大多数绝缘结构中，随着电压的升高，绝缘中气隙（或气泡）的数目将增加。此外局部放电的现象将导致介质的损坏，从而使得tgδ大大增加。因此可以通过测量tgδ的值来测量局部放电能量从而判断绝缘材料和结构的性能情况。 介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。由于辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升时间太长，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。但这种放电消耗的能量很大，使得?tgδ很大，故只有采用电桥法检测?tgδ才能判断这种放电的状态和带来的危害。但是，DLA方法只能定性的测量局部放电是否发生，基本不能检测局部放电量的大小，这限制了DLA方法的运用。
