对于非可剥离型半导电层试样：用一种剥切器，这是一种单柄或双柄的扳手状剥切器，上面有可调深度的倾斜切削刀具，随着剥切器沿电缆轴向螺旋形旋转扳动，gis局部放电测试仪，逐渐将半导电屏蔽层均匀切削掉，留下光滑的绝缘表面，然后用小刀或剥切钳将半导电屏蔽边缘修齐（图20b）这种剥切器适用于非可剥（或交联型）绝缘屏蔽层的剥切。另外还有一种简易的工具，局部放电测试仪原理，就是用玻璃片作为工具削切半导电层，也是可行的。
局部放电测试仪是武汉四维恒通根据IEC(270)标准，江西局部放电测试仪，利用脉冲电流法原理研制而成的新型局部放电检测系统。并满足GB-7354-87、GB-1207-97、GB－1208－97中关于局部放电测试对测试仪器规定的技术要求。该仪器具有灵敏度高、放大器系统动态范围大、测试的试品范围广、操作简便等优点。并采用先进的抗干扰组件和独特的门显示电路，抗干扰能力强，并具有四种高频椭圆扫描。适用于高压产品的型式、出厂试验，新产品研制试验，电机、互感器、电缆、套管、电容器、变压器、避雷器、GIS、开关及其它高压电器局部放电的定量测试。可供电器设备制造厂、科研部门、电力部门现场使用。
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