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方法分析

半导体中的电离杂质浓度可以通过霍尔系数测定,对于非本征半导体材料,在补偿度不大的情况下,只要知道迁移率的数据,就可通过电阻率的测量,镉珠价格,决定杂质的浓度,

高纯金属铝中杂质,镉珠,已低于化学分析和仪器分析灵敏度的限量,须用物理方法测定,可用剩余电阻率(ρ4.2K/ρ300K)来测定铝的纯度,因为在4.2K下,点阵中原子振动所引起的电阻率可以忽略,这样测出的电阻率就是杂质引起的电阻率,各种纯度铝中的杂质含量及剩余电阻率



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