JF-2010多通道局部放电检测仪是我们继JF－8001（仿MODEL－5）、JF－8201、JF－8601、JF－9801、 JF－2002、 JF－2007型局部放电检测仪后研制开发生产的又一新颖仪器。它基本保持了前几种仪器的优点和功能，又根据当今国内外局放仪研究领域的先进理论，参照国际电工委员会（IEC）标准，采用了先进电路，引用了先进技术，便携式局部放电测试仪，通过各地用户广泛试用后的不断改进而成的，JF－2010多通道局部放电检测仪比JF－8601、JF－9801、JF－2002局放仪在设计上更完善，使用上更方便，性能上更可靠。 JF－2010多通道局部放电检测仪具有灵敏度高，适用试品范围广，采用大面积液晶显示器，局部放电测试仪维修，试验波形显示清晰，可采用连续测量或者单次测量方式，有高频椭圆扫描（摄取功率小于1伏安），武汉局部放电测试仪，放大系统动态范围大，局部放电测试仪价格，频带组合多（九种），有辅助零标系统，放电量表数字显示。无论在小信号、大信号情况下放电量的读数都能更准确、更稳定。JF－2010局放仪具有体积小、重量轻，是携带式仪器。它是研究、开发新型高电压电工产品和提高产品质量的有力辅助工具，也是现场判断设备正常与否的有效测试仪器。该仪器与JZF－8或JZF—10型校正脉冲发生器配合使用。尤其适合电力部门、生产制造厂和科研单位等广泛使用的一种实用的局部放电测试仪器。
CFPDM-02 GIS局部放电检测仪采用特高频（UHF频段0.3～3.0GHZ）检测原理，能 够在GIS运行条件下，或在GIS工频耐压试验条件下，对其进行局部放电检测和定位，及 时发现绝缘缺陷，避免绝缘故障。
手持式仪器，采用电池供电，便于定期巡视检查。可外接两路传感器测量信号时差，可定位局部放电位置。 GIS局部放电主要由下列缺陷引发： ? 载流导体表面缺陷：如毛刺，尖角，等引起导体表面电场强度不均匀，这种缺陷通常是在制造或安装时造成的，在稳定的工频电压下不易引起击穿，但在操作或冲击电压下很可能引起击穿。 ? 绝缘子表面缺陷： 如制造质量不良，绝缘子有气泡或裂纹，安装遗留下的污迹，尘埃等。 ? GIS筒内在制造和安装过程中存在的自由导电微粒。 ? 导体部分接触不良
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