方法分析
半导体中的电离杂质浓度可以通过霍尔系数测定，对于非本征半导体材料，小金属镓，在补偿度不大的情况下，只要知道迁移率的数据，就可通过电阻率的测量，小金属，决定杂质的浓度，
高纯金属铝中杂质，已低于化学分析和仪器分析灵敏度的限量，须用物理方法测定，可用剩余电阻率(ρ4.2K/ρ300K)来测定铝的纯度，小金属销售，因为在4.2K下，点阵中原子振动所引起的电阻率可以忽略，小金属锑，这样测出的电阻率就是杂质引起的电阻率，各种纯度铝中的杂质含量及剩余电阻率
发现简史
由德国矿物学家米勒·冯·赖兴施泰因（F.J.Müller von Reichenstein）于1782年在研究德国金矿石时发现。1782年奥地利首都维也纳一家矿场监督牟勒从这种矿石中提取出碲，最初误认为是锑，后来发现它的性质与锑不同，因而确定是一种新金属元素。为了获得其他人的证实，牟勒曾将少许样品寄交瑞典化学家柏格曼，请他鉴定。由于样品数量太少，柏格曼只能证明它不是锑而已。
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