绝缘内部局部放电，包括介质内部或介质与电极之间的气隙放电； ? 沿介质表面的电场强度达到起始放电场强时产生的表面放电； ? 被气体或液体包围的高压导体附近发生的电晕放电； ? 在固体介质内由于存在尖锐导体或气隙而引起的电树枝的发展所产生的 局部放电； ? 在高压设备中或在其附近，由于某部位接地不良而产生的悬浮放电； ? 由于试样中导体接触不良或接地不良引起的接触放电。
局部放电对绝缘材料的破坏作用是与局部放电消耗的能量直接相关的，局部放电测试仪原理，因此对放电消耗功率的测量很早就引起人们的重视。在大多数绝缘结构中，随着电压的升高，局部放电测试仪价格，绝缘中气隙（或气泡）的数目将增加。此外局部放电的现象将导致介质的损坏，武汉局部放电测试仪，从而使得tgδ大大增加。因此可以通过测量tgδ的值来测量局部放电能量从而判断绝缘材料和结构的性能情况。 介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。由于辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升时间太长，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。但这种放电消耗的能量很大，使得?tgδ很大，电缆局部放电测试仪，故只有采用电桥法检测?tgδ才能判断这种放电的状态和带来的危害。但是，DLA方法只能定性的测量局部放电是否发生，基本不能检测局部放电量的大小，这限制了DLA方法的运用。
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