局部放电对绝缘材料的破坏作用是与局部放电消耗的能量直接相关的，因此对放电消耗功率的测量很早就引起人们的重视。在大多数绝缘结构中，局部放电测试仪，随着电压的升高，绝缘中气隙（或气泡）的数目将增加。此外局部放电的现象将导致介质的损坏，从而使得tgδ大大增加。因此可以通过测量tgδ的值来测量局部放电能量从而判断绝缘材料和结构的性能情况。 介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。由于辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升时间太长，湖北局部放电测试仪，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。但这种放电消耗的能量很大，bojf2008局部放电测试仪，使得?tgδ很大，故只有采用电桥法检测?tgδ才能判断这种放电的状态和带来的危害。但是，DLA方法只能定性的测量局部放电是否发生，基本不能检测局部放电量的大小，这限制了DLA方法的运用。
SWJF系列局放测试仪系统采用的检测方法是世界上目前最广泛采用的直接法、电桥平衡法、电流脉冲法，其基本原理：试品产生一次局部放电时，试品Cx两端产生瞬时的电压变化ΔU，经过一耦合电容Ck耦合到检测阻抗Zm，回路中会产生一脉冲电流I，将此脉冲电流I经检测阻抗Zm产生的脉冲电压进行采样，放大和显示处理，就可以测定局部放电的视在放电量等参数。脉冲电流法主要利用局部放电信号频谱中的较低频部分，可避免无线电干扰。
