检测方法
高纯金属的检测方法极为困难。痕量元素的化学分析系指一克样品中含有微克级（10克/克）、毫微克级(10克/克)、微微克级（10克/克）杂质的确定。常用的手段有中子和带电粒子活化分析超纯金属，原子吸收光谱分析，荧光分光光度分析，质谱分析，硒丸报价，化学光谱分析及气体分析等。在单晶体高纯材料中，晶体缺陷对材料性能起显著影响，称为物理杂质，硒丸，主要依靠在晶体生长过程中控制单晶平稳均匀的生长来减少晶体缺陷。
对于杂质浓度小于[KG2]10原子/厘米[KG2]的探测器级超纯锗，硒丸批发，则尚须经过特殊处理。由于锗中有少数杂质如磷、砷、铝、镓、硅、硼的分配系数接近于1或大于1，要加强化学提纯方法除去这些杂质，然后再进行区熔提纯。电子级纯的区熔锗锭用霍尔效应测量杂质(载流子)浓度，硒丸采购，一般可达10～10原子/厘米。经切头去尾，再利用多次拉晶和切割头尾，一直达到所要求的纯度（10原子/厘米），这样纯度的锗（相当于13）所作的探测器，其分辨率已接近于理论数值。 超纯金属 超纯金属铝的制备与检测方法与锗不同。用三层电解法制备的精铝，其纯度为99.99%，金属铝中杂质的分配系数如表1 [金属铝中杂质的分配系数]。
