局部放电对绝缘材料的破坏作用是与局部放电消耗的能量直接相关的，因此对放电消耗功率的测量很早就引起人们的重视。在大多数绝缘结构中，变频局部放电测试仪，随着电压的升高，绝缘中气隙（或气泡）的数目将增加。此外局部放电的现象将导致介质的损坏，从而使得tgδ大大增加。因此可以通过测量tgδ的值来测量局部放电能量从而判断绝缘材料和结构的性能情况。 介质损耗分析法特别适用于测量低气压中存在的辉光或者亚辉光放电。由于辉光放电不产生放电脉冲信号，而亚辉光放电的脉冲上升时间太长，湖北局部放电测试仪，普通的脉冲电流法检测装置中难以检测出来。但这种放电消耗的能量很大，局部放电测试仪价格，使得?tgδ很大，故只有采用电桥法检测?tgδ才能判断这种放电的状态和带来的危害。但是，DLA方法只能定性的测量局部放电是否发生，基本不能检测局部放电量的大小，这限制了DLA方法的运用。
SWJF系列：包含四个特高频传感器、一个手持式高速数字示波器和一个基于工控机的测量系统，除了功能外，局部放电测试仪说明书，工控机可自动完成对四个检测点的设定时间的长期局部放电监测。 ＧＩＳ 局部放电体外特高频传感要求ＧＩＳ 壳体上具有绝缘窗口或缝隙，如盘式绝缘子、玻璃观察窗等，能够让电磁波信号由ＧＩＳ 体内传播到体外。一些类型ＧＩＳ 的盘式绝缘子具有金属环，将阻挡电磁波的传播，限制局部放电体外特高频传感。如果这个金属环上有一个长形浇注孔，则可一定程度进行局部放电信号传感。
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